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线阵相位偏折2.5D成像系统
双元科技研发的线阵相位偏折2.5D成像系统，通过自研2.5D光源、智能线阵相机与内置算法协同，实现反光表面的高精度三维形 貌、缺陷检测；支持8K/16K型号。
2.5D成像系统
缺陷检测
2.5D光源
高精度三维检测
性能参数
| 序号 | 项目 | 参数指标 |
| 1 | 分辨率 | 8192/16384px |
| 2 | 单通道最高行频 | 30kHz/43kHz |
| 3 | 照度 | 光源＞500,000LUX |
| 4 | 频闪与输出 | 8光路频闪；8路原始图＋8路合成图 |
2.5D缺陷成像效果对比
典型应用
复杂印刷、高反光表面下，形状图强化划痕凹点轮廓与渐变起伏，削弱亮度干扰，区分压痕与指纹；漫反射、镜面反射图信息互补，抑制高光，凸显薄膜缺陷，提升异常分辨能力，典型应用：电池、柔性覆铜板、 显示屏、汽车档把、手机膜和反光包装袋等。
+86 0571-88912732
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浙江省杭州市莫干山路1418号-41-2号楼 浙江双元科技大厦
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