线阵光度立体2.5D成像系统
双元科技研发的线阵光度立体2.5D成像系统,通过自研光度立体光源、智能线阵相机与内嵌算法,实现漫反射表面的高精度三维形貌、缺陷检测;适用于高速、高精度和大幅宽检测。
2.5D成像系统
缺陷检测
光度立体光源
高精度三维检测
性能参数
| 序号 | 项目 | 参数指标 |
| 1 | 分辨率 | 8192/16384px |
| 2 | 单通道最高行频 | 60kHz/86kHz |
| 3 | 接口 | 光纤10G/20G;16K支持40G |
| 4 | 频闪与输出 | 4光路频闪;4路原始图+16路合成图 |
2.5D缺陷成像效果对比
典型应用
重点解决漫反射表面微小缺陷与复杂背景干扰,典型应用:电池极片、铜箔、铝箔及各类金属零部件表面检测产线。